Pts8625 Series Properties Test of Semiconductors Systems

半导体器件性能测试系统

配置说明：

Pts8625系列是集成SMU单元及放大器模块开发的一款具有可扩展性的半导体器件参数特性分析系统；

具有电流/电压（IV）测试、电容（CV/CF）测试、脉冲式 IV 测试、1/f低频噪声测试等功能，软件系统可以根据用户特定需求做客制化开发，本系统可搭配各类手动及自动类探针测试系统。

应用领域：

⚫ MOSFET 与 BJT 晶体管

⚫ 二极管与 PN 结

⚫ 器件可靠性测试

⚫ 器件噪声特性分析

⚫ 半导体器件特性分析与建模

⚫ 先进工艺节点下的产线测试

⚫ III-V 族化合物

⚫ 光子检测器件

⚫ 钙钛矿与太阳能电池

⚫ LED 与薄膜晶体管

⚫ 二维材料

⚫ 非易失性存储器与材料

⚫ MEMS 与传感器

⚫ 分子与纳米器件