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μ-SDS 装载精密扫查器和高频探伤仪 HIS3HF,可对材料及电子元件内部进行精密检测。
特征：
・高速度・高分解能力扫描器
采用最高 1000mm/秒的扫查速度,最小 2μm 的走行距离的扫查器,
实现高速度,高分解探伤。
・配置高频超声波探伤仪 HIS3HF
是我公司以独自开发的技术研制的最新数字探伤仪。从一般用途到高频带的特殊领域 1 台仪器可全部覆盖。
・充实完善的分析软件
标准配置波形相位矩阵处理(MURAI 处理:专利 2896385）及 FFT波 形 分 析 处 理 软 件 ,并 搭 载 聚 合 探 头 可 实 现 从 缺 陷 的 检 出 到 评 估，适用于广泛的检测需求。
＜适用领域＞
・钢材的微小介在物的检测(纯净度试验)
・陶瓷材的微小气泡
・裂缝检测
・电子元件的内部检测
・注塑材料的内部检测
・复合材料的纤维取向状况的检测
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