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    半导体材料/器件测试解决方案
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    四探针恒温测试台 

    规格:

    可选样品卡盘尺寸:4寸、6寸、8寸、12寸
    外形:圆形或方型
    温度范围:10~70 °C(可选100°C)
    温控精度:+/-0.1 °C
    温控稳定性:+/-0.3 °C
    卡盘平整度:+/-5um
    卡盘标线:客制化
    样品固定方式:真空吸附
    材质:不锈钢/铜或其它涂镀材料,如:镀金、镀镍等
    电源:AC/DC
    温控仪:日本富士
    测温探头:欧姆龙

    其它可选组件:
    固定四探针压针方式:可选电动或手动压针
    固定四探针间距:1mm/2mm/3mm(其它尺寸可客制化)
    可调节三维探针座(http://www.psaic.net/product242-1.html#MainBody)
    弹性镀金测针
    可调式探针(http://www.psaic.net/product160-1.html#MainBody)
    探针夹具(http://www.psaic.net/product241-1.html#MainBody)
    测试线缆(http://www.psaic.net/product313-1.html#MainBody)
    屏蔽箱及隔震台可选(http://www.psaic.net/product247-1.html#MainBody)

     

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